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PRODUCT CLASSIFICATIONX射線是表面殘余應(yīng)力測定技術(shù)中為數(shù)不多的無損檢測法之,是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測定應(yīng)力的,至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應(yīng)力分析和檢測方法之,被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的各域。2012年日本Pulstec公司開發(fā)出基于全二維探測器技術(shù)的殘余應(yīng)力分析儀——μ-X360n,將用X射線研究殘余應(yīng)力的測量速度和精度推到了個(gè)全新的高度,設(shè)備推出不久便得到業(yè)界好評(píng)
X射線是表面殘余應(yīng)力測定技術(shù)中為數(shù)不多的無損檢測法之,是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測定應(yīng)力的,至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應(yīng)力分析和檢測方法之,被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的各域。2012年日本Pulstec公司開發(fā)出基于全二維探測器技術(shù)的新代X射線殘余應(yīng)力分析儀——μ-X360J,將用X射線研究殘余應(yīng)力的測量速度和精度推到了個(gè)全新的高度,設(shè)備推出不久便得到業(yè)界好評(píng)
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