Microscopy顯微光學(xué)超導(dǎo)磁體系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

Janis Microscopy顯微光學(xué)超導(dǎo)磁體系統(tǒng)被設(shè)計用于與ST-500型高穩(wěn)定性顯微光學(xué)低溫恒溫器一起使用，實現(xiàn)在7 T磁場及3.5 K~420 K變溫環(huán)境中的顯微光學(xué)測量。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2024-04-18

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品咨詢 13021034795

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

低溫物理設(shè)備

傳感器探針臺超導(dǎo)磁體、電源、液面計等低溫成像設(shè)備制冷機設(shè)備位移臺系列設(shè)備低溫恒溫器磁電測量設(shè)備

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Janis Microscopy顯微光學(xué)超導(dǎo)磁體系統(tǒng)被設(shè)計用于與ST-500型高穩(wěn)定性顯微光學(xué)低溫恒溫器一起使用，實現(xiàn)在7 T磁場及3.5 K~420 K變溫環(huán)境中的顯微光學(xué)測量。該系統(tǒng)配備用于樣品掃描和聚焦的X-Y-Z平移臺，可在低溫強磁場下的進行顯微拉曼、熒光、磁光克爾等多種光譜測試。

主要特征

? 7T垂直孔徑超導(dǎo)磁體

? 室溫孔內(nèi)徑42毫米

? 超低振動ST-500顯微鏡低溫恒溫器

? 溫度范圍：3.5~325K（420K可選）

? 高精度XYZ三軸平臺

? 可測試直徑為16mm的樣品

? 低溫強磁場顯微拉曼、熒光、MOKE

標(biāo)準Microscopy主要參數(shù)