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產(chǎn)品中心低溫物理設(shè)備探針臺CPX-VF低溫超導(dǎo)磁體探針臺
產(chǎn)品簡介
Lake Shore的CPX-VF探針臺增加了±2.5T的超導(dǎo)磁體，可以進(jìn)行C-V、I-V、微波和電光探測，以及平面外垂直場超導(dǎo)磁測量。研究人員可以使用CPX-VF進(jìn)行霍爾效應(yīng)測量和測試磁輸運(yùn)參數(shù)。CPX-VF 是Lake Shore探針臺中結(jié)合微波和磁場測量的優(yōu)秀探針臺之一。
產(chǎn)品分類
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Lake Shore的CPX-VF探針臺增加了±2.5T的超導(dǎo)磁體，可以進(jìn)行C-V、I-V、微波和電光探測，以及平面外垂直場超導(dǎo)磁測量。研究人員可以使用CPX-VF進(jìn)行霍爾效應(yīng)測量和測試磁輸運(yùn)參數(shù)。CPX-VF 是Lake Shore探針臺中結(jié)合微波和磁場測量的優(yōu)秀探針臺之一。
CPX-VF在直徑達(dá)51mm（2英寸）的晶圓上實(shí)現(xiàn)真正的90°晶圓探測。樣品可在冷卻過程中保持較高溫度，降低了樣品冷凝的可能性，這是測量有機(jī)材料的關(guān)鍵要求。
CPX-VF使用液氦或液氮進(jìn)行連續(xù)流制冷（使用超導(dǎo)磁體時必須使用液氦），其操作溫度范圍為4.2 K到400 K，使用低溫選件可將基礎(chǔ)低溫擴(kuò)展到2 K。
主要特征：
√ 溫度范圍4.3 K~400 K
√ 可選低溫1.9 K
√ 垂直磁場±2.5 T
√ 最大2英寸（51 mm）樣品
√ 樣品可面內(nèi)±5°旋轉(zhuǎn)
√ 樣品振動＜30 nm可選
√ 90°探針樣品測量
√ 霍爾效應(yīng)測試選件
√ 超高真空選件
√ 可定制真空腔聯(lián)用轉(zhuǎn)移樣品，避免樣品暴露在大氣環(huán)境
設(shè)備參數(shù)：
| 磁場 | ||
| 磁體類型 | 超導(dǎo)螺線管 | |
| 磁場方向 | 垂直方向（垂直于樣品面） | |
| 磁場控制 | 電流控制 | |
| 磁場大小 | 最大±25 KOe(±2.5 T) | |
| 磁場均勻性 | 0.5% 10 mm直徑；1% 25 mm直徑 | |
| 探針針尖移動 | <5μm 整個磁場范圍內(nèi) | |
| 溫度范圍 | ||
| 最多配置6個探針臂 | 基礎(chǔ)溫度4.3 K，溫度控制范圍4.4 K ~ 400 K | |
| 安裝PS-LT低溫選件 | 基礎(chǔ)溫度1.9 K，溫度控制范圍2 K ~ 400 K | |
| 溫度穩(wěn)定性 | 液氦 | |
| 基礎(chǔ)溫度 (無加熱控制) | ±15 mK | |
| <10 K | ±50 mK | |
| 10 K ~ 100 K | ±20 mK | |
| 101 K ~ 250 K | ±15 mK | |
| 251 K ~ 350 K | ±15 mK | |
| 351 K ~ 400 K | ±50 mK | |
| 真空 | 以TPS-FRG分子泵為標(biāo)準(zhǔn) | PS-HV-CPX選件 |
| 抽真空時間 | 30 min (<1 × 10-3 Torr) | 10 min (<1 × 10-3 Torr) |
| 室溫 | <5 × 10-4 Torr | <5 × 10-6 Torr |
| 基礎(chǔ)溫度 | <1 × 10-5 Torr | <5 × 10-7 Torr |
| 最高溫度 | <5 × 10-5 Torr | <5 × 10-7 Torr |
| 循環(huán)時間 | ||
| 總循環(huán) | 4 h | |
| 抽真空 | 0.5 h | |
| 探針臺冷卻 | 2 h | |
| 探針臺升溫 | 1.5 h | |
| 樣品 | ||
| 最大尺寸 | 51 mm(2英寸) | |
| 樣品背光接口 | 不可選 | |
| 樣品旋轉(zhuǎn) | ±5°樣品面內(nèi)旋轉(zhuǎn) | |
| 樣品振動 | ＜300 nm（標(biāo)準(zhǔn)），＜30 nm（配置減震選件PS-PVIS） | |
| 探針配置 | ||
| 最大探針數(shù) | 6 | |
| 探針臂溫度計 | 用于監(jiān)視探針臂的溫度 | |
| 冷卻探針支架 | ＜20 K(樣品在基礎(chǔ)溫度下) | |
| 探針支架 | 連接磁體防輻射屏熱沉 | |
| 探針臂支架 | 連接防輻射屏熱沉 | |
| DC/RF探針 | 電絕緣>100GΩ用于低漏電流測量 | |
| 微波探針 | 頻率范圍從DC到67GHz | |
| 光纖探針 | 可用于電光測量 | |
| 落針范圍 | 所有探針均可在直徑為 25.4 毫米（1 英寸）的圓內(nèi)落針 | |
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