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當前位置:首頁新聞資訊*測量平臺:PPMS綜合物性測量系統(tǒng)之拓展應用篇(下)

*測量平臺:PPMS綜合物性測量系統(tǒng)之拓展應用篇(下)

更新時間:2017-11-22點擊次數(shù):560

    上期給大家介紹了PPMS的部分測量應用,為大家呈現(xiàn)了PPMS基于主腔體的多種功能選件,在幾十年磁學探索及合作的道路上,這部分選件功能已經(jīng)為大部分磁電研究域的科學家給予了大支持。然而,Quantum Design公司并未止步于此,在滿足客戶基本需要的基礎上,我們在不斷突破測試限,完善測試平臺的多功能性、靈活性和穩(wěn)定性,新近推出了更多系列的拓展功能選件。

?    Quantum Design公司近期與德國attocube公司聯(lián)合推出了多款可以在PPMS平臺上工作的顯微學和光譜學組件,涵蓋了表面形貌、磁電、光學等多個域的高精度測量,實現(xiàn)在變溫、變磁場環(huán)境下的多種測量模式(諸如原子力AFM、磁力顯微鏡MFM、掃描霍爾探針顯微鏡SHPM、共聚焦顯微鏡CFM等)的形貌及表面微結(jié)構(gòu)的測量等,例如:


1、對磁疇成像

 

圖1  磁疇測量結(jié)果,樣品為NiFe薄膜。測量溫度300K,探針與樣品間距為20nm,dual-pass掃描模式,空間分辨率為10.7nm

 

2、BSCCO磁通隨磁場B和溫度T的變化

 

圖2  磁場強度從-40Oe變化到+50Oe時,磁通出現(xiàn)反向

 

圖3  提高樣品溫度,磁通結(jié)構(gòu)消失

3、BaFeO低溫測量

  

圖4  相對于MFM,SHPM具有定量測量、無需接觸樣品表面和更高敏感性的點

測量參數(shù):
霍爾電流:10 µA;掃描范圍:30 µm
樣品與探針距離:350 nm;磁場分辨率:0.19mT

4、氧化鐵薄膜壓電顯微鏡測量

 

樣品:層狀異質(zhì)結(jié)(150nm BiFeO3-Mn / 35nm SrRuO3 / SrTiO3 (001) 襯底)
測量溫度:82K
壓電力振幅圖像(圖)
壓電力相位圖像(圖5b,壓電疇方向為0°和180°)

圖5  圖中有兩個正方形(正方向和旋轉(zhuǎn)的)是分別采用+/-15V電壓書寫的,從振幅圖可以看到,在疇壁區(qū)域,振幅為零

 

圖6   電滯回線, 測量溫度82K;左右分別為相位和振幅信號


5、MFM模式下的磁通測量

 

 

圖7  復旦大學PPMS用戶——4K和45Gs的MFM模式下探測鐵基超導樣品磁通


    目前,PPMS平臺搭建attocube光學選件已經(jīng)在擁有復旦大學、中科大、物理所等多家用戶,滿足了不同用戶的不同測試需求。Quantum Design公司在尋求外部合作的同時,也不斷突破自我,勇于創(chuàng)新,逐步完善測試平臺。包括溫度控制部分、磁體冷卻方式及磁場大小、電路部分升以及氦氣的用和回收方式等,并取得了較好的效果(從*代大杜瓦,EC-I 到第二代 reliquefier, EC-II 然后當前代 DynaCool),同時也致力于研發(fā)更多功能強大的選件(比如適用于MPMS3的ETO選件),希望這些選件能為科研工作者的研究工作帶來更高的精度和更大的便捷。

    如果您對以上選件功能感興趣,或者期望了解PPMS更多功能選件及應用案例,歡迎您致電咨詢,我們會盡快對您的咨詢給出滿意的答復!

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