繼美國(guó)RHK Technology公司推出的革命性掃描探針顯微鏡控制平臺(tái)R9取得大成功之后，其研發(fā)團(tuán)隊(duì)通過升軟硬件及功能隆重發(fā)布新代R9plus控制器。基于*的單箱集成，R9plus將無限的靈活性，精心設(shè)計(jì)的實(shí)用功能和*的設(shè)備穩(wěn)定性巧妙結(jié)合在起。R9plus細(xì)化和擴(kuò)展的固件、軟件，以及進(jìn)步化的模擬電路提供給用戶的性能和體驗(yàn)。
    相比于R9控制器，升后的R9plus（圖1）點(diǎn)主要有：全新的FPGA固件構(gòu)架大地提高了配置靈活性，對(duì)于測(cè)量提供有60多個(gè)可用的數(shù)據(jù)通道，數(shù)據(jù)流和掃描速度均提高5倍，模擬電路噪聲水平降低到原來的1/4，鎖相放大器的解調(diào)帶寬增加至100KHz，個(gè)控制器可以運(yùn)行兩個(gè)立的掃描探針顯微鏡（SPM）和設(shè)置任意密度的網(wǎng)格點(diǎn)進(jìn)行圖譜測(cè)量等。

圖1：R9plus便捷的單箱集成

圖2：R9plus更低的噪聲水平

    R9plus允許高質(zhì)量圖像和譜圖數(shù)據(jù)的采集。用R9plus采集掃描隧道譜圖，即網(wǎng)格譜線數(shù)據(jù)，允許實(shí)時(shí)顯示10條閾值譜線（圖3）。譜線的每個(gè)像素點(diǎn)可以單顯示和分析。譜線數(shù)據(jù)可以取平均值用于與襯底的噪聲進(jìn)行比較。

圖3：硅的網(wǎng)格掃描隧道譜圖

    R9plus對(duì)于原子力顯微鏡（AFM）的控制也有大的勢(shì)。，其多個(gè)內(nèi)部集成的鎖相放大器可以探測(cè)針尖-樣品間非線性相互作用機(jī)制；其次，通過表征非接觸原子力顯微鏡（Non-contact atomic force microscope）和頻率調(diào)制開爾文探針顯微鏡（Frequency-modulated Kelvin probe microscope）結(jié)合技術(shù)中的邊帶振幅，NC-AFM鎖相環(huán)（phase lock loop）的帶寬可以與開爾文測(cè)試分離，由此可以更快地掃描且噪聲更低。再次，兩個(gè)鎖相環(huán)可以同時(shí)立地測(cè)試雙探針NC-AFM。zui后，提供個(gè)切換開爾文探針不同模式的開關(guān)鍵，且可以同時(shí)測(cè)量2*ƒBias and 3*ƒBias由此得到 dC/dZ和dC/d號(hào)。

圖4：邊帶頻率調(diào)制開爾文測(cè)量噪聲較低

    R9plus基本功能可被初學(xué)者快速掌握，使用方便，同時(shí)R9plus的靈活性又適用于用戶，可突破限制，靈活設(shè)計(jì)更加符合實(shí)驗(yàn)需求的功能和模式。對(duì)于任何別的用戶體驗(yàn)和簡(jiǎn)單或苛刻實(shí)驗(yàn)步驟的任何階段，R9plus以其*充分整合的內(nèi)部電路、直觀的圖形用戶界面，易于定制的硬件描述語(yǔ)言，zui高的數(shù)據(jù)完整性，有的診斷工具，zui低的噪音和zui高的速度為用戶提供有力的支持。

關(guān)于Quantum Design

Quantum Design是的科研設(shè)備制造商和儀器分銷商，于1982年創(chuàng)建于美國(guó)加州圣迭戈。公司生產(chǎn)的 SQUID 磁學(xué)測(cè)量系統(tǒng) (MPMS) 和材料綜合物理性質(zhì)測(cè)量系統(tǒng) (PPMS) 已經(jīng)成為*的*測(cè)量平臺(tái)，廣泛的分布于上幾乎所有材料、物理、化學(xué)、納米等研究域的實(shí)驗(yàn)室。2007年，Quantum Design并購(gòu)了歐洲zui大的儀器分銷商LOT公司，現(xiàn)已成為的科學(xué)儀器域的跨國(guó)公司。目前公司擁有分布于英國(guó)、美國(guó)、法國(guó)、德國(guó)、巴西、印度，日本和中國(guó)等地區(qū)的數(shù)十個(gè)分公司和辦事處，業(yè)務(wù)遍及百多個(gè)國(guó)家和地區(qū)。中國(guó)地區(qū)是Quantum Design公司zui活躍的市場(chǎng)，公司在北京、上海和廣州設(shè)有分公司或辦事處。幾十年來，公司與中國(guó)的科研和教育域的合作有成效，為中國(guó)科研的進(jìn)步提供了進(jìn)的設(shè)備以及高質(zhì)量的服務(wù)。原子力顯微鏡