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   2019年8月，*套奧地GETec公司掃描電鏡原位AFM探測系統(tǒng)（AFSEM）在中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所曾毅教授課題組順交付使用。

奧地GETec公司掃描電鏡原位AFM探測系統(tǒng)現(xiàn)場安裝培訓(xùn)

納米 新探索   

    奧地GETec公司發(fā)布的AFSEM是款緊湊型，適用于真空環(huán)境的AFM產(chǎn)品，能夠輕松地與SEM結(jié)合為體，擴(kuò)展SEM樣品成像和分析能力，實(shí)現(xiàn)了AFM和SEM的功能性互補(bǔ)。AFSEM技術(shù)與SEM技術(shù)的結(jié)合，是人們對納米新探索的重要工具之。

GETec AFSEM 系統(tǒng)安裝示意圖及實(shí)物圖

    中國科學(xué)研究院硅酸鹽研究所曾老師課題組主要從事材料顯微結(jié)構(gòu)表征技術(shù)研究，在掃描電鏡使用操作方面具有豐富的經(jīng)驗(yàn)。本次交付的AFSEM系統(tǒng)結(jié)合了課題組已有的美國FEI電鏡Versa™ 3D 雙束掃描電鏡，該強(qiáng)有力地結(jié)合，可將SEM已有的樣品表面分析成像功能擴(kuò)展到AFM探測域，同時也將幫助曾老師課題組在材料顯微結(jié)構(gòu)方面的研究，我們也祝愿曾老師在未來的科研工作中取得累累成果。

    同時，GETec公司也非常關(guān)注此次安裝，同期9月，奧地政府經(jīng)濟(jì)商會訪問團(tuán)在上海大學(xué)參與政府組織的學(xué)術(shù)研討活動，會后邀請其國內(nèi)外家人士參觀曾老師課題組，并順舉辦有關(guān)GETec 技術(shù)應(yīng)用研討會，將奧地公司及研究機(jī)構(gòu)與上海大學(xué)及研究機(jī)構(gòu)緊密聯(lián)系在起。研討會上，奧地GETec公司介紹了AFSEM的新發(fā)展并討論其應(yīng)用。

奧地GETec公司國內(nèi)舉辦研討會及現(xiàn)場儀器操作演示 

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