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臺式ALD,Nat. Mater.!二維晶體管介電層集成研究取得重要進展

更新時間:2023-10-19點擊次數(shù):642
臺式三維原子層沉積系統(tǒng)-ALD
體積小巧,可放在實驗桌上
多片4,6,8 英寸樣品同時沉積
厚度均勻性高于99%
適合復(fù)雜/ 摻雜薄膜沉積
二維半導(dǎo)體表面沉積利器
......

      隨著現(xiàn)代半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展,基于硅半導(dǎo)體的場效應(yīng)晶體管(FET)的尺寸不斷縮小,目前已經(jīng)接近其物理極限。在新興材料中,二維半導(dǎo)體可達到原子級厚度且保持高載流子遷移率,理論上可實現(xiàn)優(yōu)異的柵極控制,因而被認為是用于下一代場效應(yīng)晶體管的理想溝道材料。然而,由于二維半導(dǎo)體表面無懸掛鍵,很難在其表面集成高質(zhì)量的介電層,這是目前該領(lǐng)域的重大難題。

      為解決上述問題,華中科技大學(xué)翟天佑團隊以無機分子晶體Sb2O3作為緩沖層,發(fā)明了一種在二維材料表面集成超薄高k介電層的普適性方法。利用該緩沖層法制備的HfO2/Sb2O3復(fù)合介電層可實現(xiàn)0.67 nm的等效氧化層厚度(EOT),是目前報道的二維晶體管介電層中zui低的。高質(zhì)量的界面降低了界面態(tài)密度,由單層MoS2溝道和HfO2/Sb2O3復(fù)合介電層構(gòu)成的FET在0.4 V的超低工作電壓下即可獲得超過106的開關(guān)比,其柵極控制效率優(yōu)于目前報道的其他所有FET。該項成果以“Scalable integration of hybrid high-κ dielectric materials on two-dimensional semiconductors"為題發(fā)表于國際高水平期刊Nature Materials。

      Sb2O3緩沖層的作用機理如下:一方面,Sb2O3可與二維半導(dǎo)體間形成高質(zhì)量的范德華界面;另一方面,Sb2O3覆蓋了二維材料原有的疏水表面,提供了高度親水的表面,提升了與傳統(tǒng)原子層沉積(ALD)工藝的相容性,便于集成超薄高k介電層。圖1a展示了在MoS2二維半導(dǎo)體表面集成HfO2/Sb2O3復(fù)合介電層的過程。作者利用熱蒸鍍法制備了Sb2O3緩沖層,隨后使用美國Arradiance公司的GEMStar系列臺式原子層沉積(ALD)系統(tǒng)制備了致密均勻的HfO2層(圖1b)。此外,作者還利用該臺式ALD設(shè)備MoS2/Sb2O3上生長了常見介電層Al2O3和ZrO2(圖1c, 1d),證明了該方法的普適性。
圖1. (a)在MoS2二維半導(dǎo)體表面集成HfO2/Sb2O3復(fù)合介電層的過程,(b)-(c)樣品的AFM圖像。

      隨后,作者用第一性原理計算研究了Sb2O3緩沖層對ALD過程的促進原理。如圖2a-2b所示,H2O分子在MoS2表面的吸附距離為約3?,在Sb2O3表面的吸附距離減小至約2?,接近于水中氫鍵的長度。同時,H2O分子在Sb2O3表面的吸附能大幅高于在MoS2表面的吸附能(圖2c)。上述結(jié)果表明Sb2O3緩沖層可促進ALD過程中的前驅(qū)體吸附,有助于介電層的生長。
圖2. H2O分子在(a)MoS2和(b)Sb2O3表面的吸附構(gòu)型,(c)H2O分子在MoS2Sb2O3表面的吸附能。

      本文所使用的美國Arradiance公司的GEMStar系列臺式原子層沉積系統(tǒng)如圖3所示,在小巧的機身(78 * 56 * 28 cm)中集成了原子層沉積所需的所有功能,可容納9片8英寸基片同時沉積。全系配備熱壁,結(jié)合前驅(qū)體瓶加熱,管路加熱,橫向噴頭等設(shè)計,使溫度均勻性高達99.9%,氣流對溫度影響減少到0.03%以下。高溫度穩(wěn)定度的設(shè)計不僅可在8英寸基體上實現(xiàn)厚度均勻的膜沉積(其厚度均勻性高于99%),而且適合對具有超高長徑比孔徑的3D結(jié)構(gòu)進行均勻薄膜覆蓋,在高達1500:1長徑比微納深孔內(nèi)部也可均勻沉積。此外,該設(shè)備還具有節(jié)約前驅(qū)體原料,制備效率高,性價比高等優(yōu)點。該設(shè)備已幫助國內(nèi)外用戶取得大量Nature、Science級別的研究成果。
圖3. 美國Arradiance公司生產(chǎn)的GEMStar系列臺式三維原子層沉積系統(tǒng)

參考文獻:
[1]. Scalable integration of hybrid high-κ dielectric materials on two-dimensional semiconductors. Nat. Mater., 2023, DOI:10.1038/s41563-023-01626-w

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1. 臺式三維原子層沉積系統(tǒng)-ALD


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