x射線近邊吸收譜X射線透過(guò)樣品后，其強(qiáng)度發(fā)生衰減且衰減程度與樣品的結(jié)構(gòu)、組成密切有關(guān)。這種研究透射強(qiáng)度I與入射X射線強(qiáng)度Io之間的關(guān)系，稱(chēng)為X射線吸收光譜；由于其透射光強(qiáng)與原子序數(shù)、原子質(zhì)量有關(guān)，對(duì)于對(duì)固體（晶體或非晶）、液體、氣體等各類(lèi)樣品都可以進(jìn)行相關(guān)測(cè)試元素的定性，定量分析。

　　由于x射線近邊吸收譜來(lái)源于高能光子被吸收原子周?chē)呐湮辉幼鰡紊⑸渑c出射波干涉形成，所以其x射線近邊吸收譜與周?chē)拥拇嬖谛问接嘘P(guān)，且相關(guān)影響如下：

　　1.周?chē)优c吸收X光子的原子之間的距離。

　　距離不同，反射波與初始波的位相差不同，且此位相差與間距和波長(zhǎng)的乘積成正比，所以以波矢為自變量的x射線近邊吸收譜振蕩頻率就與此間距離成正比。

　　2.周?chē)拥膫€(gè)數(shù)。

　　個(gè)數(shù)不同，反射波的強(qiáng)度不同，造成x射線近邊吸收譜振蕩幅度不同。

　　3.周?chē)拥姆N類(lèi)。

　　種類(lèi)不同，在此原子上反射波的相移和強(qiáng)度就不同，使x射線近邊吸收譜振蕩的幅度和頻率都發(fā)生微小的變化。

　　由于x射線近邊吸收譜與上述因素有關(guān)，通過(guò)EXAFS譜的分析可以得到物質(zhì)中某原子周?chē)脑优湮磺闆r，包括：配位距離、配位數(shù)及配位原子種類(lèi)。