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TECHNICAL ARTICLES西班牙Das-Nano公司成立于2012年,是家注研發(fā)高安全別打印設(shè)備、太赫茲無損檢測設(shè)備以及個人身份安全驗證設(shè)備的高科技公司。近日,該公司重磅推出了可以實現(xiàn)大面積(8英寸wafer)石墨烯和其他二維材料的全區(qū)域無損非接觸快速電學(xué)測量系統(tǒng)-ONYX。
石墨烯/二維材料電學(xué)性質(zhì)非接觸快速測量系統(tǒng)-ONYX 設(shè)備圖
ONYX采用體化的反射式太赫茲時域光譜技術(shù)(THz-TDS)彌補了傳統(tǒng)接觸測量方法(如四探針法- Four-probe Method,范德堡法-Van Der Pauw和電阻層析成像法-Electrical Resistance Tomography)及顯微方法(原子力顯微鏡-AFM, 共聚焦拉曼-Raman,掃描電子顯微鏡-SEM以及透射電子顯微鏡-TEM)之間的不足和空白。ONYX可以快速測量從0.5 mm2到~m2的石墨烯及其他二維材料的電學(xué)性,為科研和工業(yè)化提供了種顛覆性的檢測手段。與其他大面積測試方法(例如四探針方法)相比,ONYX能夠測量樣品質(zhì)量的空間分布信息,并且屬于無損測試,在實驗過程中不會對樣品產(chǎn)生任何損傷。與傳統(tǒng)顯微方法相比,對大面積的樣品可以以微米的空間分辨率快速表征,能夠大的節(jié)約測量時間,提高效率[1,2]。
ONYX參數(shù)及點
樣品大小: 10x10mm-200x200mm 超快測量速度:12cm2/min 樣品全覆蓋測量 無需樣品制備 | 可定制樣品測量面積(m2量) zui高分辨率:50μm 非接觸快速測量 無損快速測量 |
ONYX主要功能
→ 直流電導(dǎo)率(σDC) → 載流子遷移率, μdrift → 直流電阻率, RDC | → 載流子濃度, Ns → 載流子散射時間,τsc → 表面均勻性 |
ONYX應(yīng)用方向
石墨烯 | 光伏薄膜材料 | 半導(dǎo)體薄膜 | 電子器件 |
PEDOT | 鎢納米線 | GaN顆粒 | Ag 納米線 |
目前,ONYX在研究機構(gòu)和工業(yè)化域已經(jīng)安裝多套設(shè)備,包括:丹麥技術(shù)大學(xué)(DTU),牛津儀器,德國BOSH公司,LG化學(xué),3M公司,西班牙Graphenea公司等。Quantum Design中國子公司也于2020年正式將該產(chǎn)品引進(jìn)中國,為中國客戶提供高效的技術(shù)支持和解決方案,歡迎廣大科研工作者垂詢。
參考文獻(xiàn)
[1] Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A. et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Sci Rep 9, 10655 (2019).
[2] Melios, C., Huang, N., Callegaro, L. et al. Towards standardisation of contact and contactless electrical measurements of CVD graphene at the macro-, micro- and nano-scale. Sci Rep 10, 3223 (2020).
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